Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯SL8500

Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯SL8500

产品简介:

桌面式
黄绿光/白光

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Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯SL8500系列简介

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500系列是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),检测灯的原理利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点,取代传统的照明设备和光学系统机台,直接通过照明光线和肉眼,观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,极大的节省了一般工厂的采购成本。 SL8500-GY黄绿光检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光,来做最简单与明确的判别,可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光,几乎可检测出所有尘埃,大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达15万LX,最小可以检测1μ的表面脏污,比传统的检查灯,效用增强10倍.。(注意:SL8500系列检查灯的亮度最高只有15万LX ;如果有更高的测试要求请使用SL8900和SL8600系列的检查灯,SL8600亮度最高有30万LX,SL8900的最高亮度是40万LX)(底部有视频讲解)。

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500参数规格
型号:SL8500-GY高照度晶圆LED检查灯;晶圆颗粒缺陷检查灯;Wafer表面检查灯
光 源:20W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 9万lx;距离30cm → 15万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积:  8-16cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;消耗功率:20 W
电源:采用110-220V电源供电(交流供电),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:53 * 220mm;  净重: 0.53KG(不含配件

Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯SL8500

产品型号SL8500-W白光晶圆检查灯SL8500-GY黄绿光晶圆检查灯备注
LED的数量和规格1个进口20W 6000K LED 加定制的光学透镜和定制滤光片可以按照客户的要求定制
通常6000K白光,510-590NM黄绿光;有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波长
检查灯的波长6000K 白光510-600NM黄绿光
检查灯的亮度8万LX→距离40cm;

15万LX→距离30cm;

9万LX→距离40cm;

15万LX→距离30cm;

我们掌握了核心技术,我们可以 提供不同照度的检查灯,它们可满足不同客户的要求
照射面积(单位MM)Ø 8- 16cm 在40cm的距离
调光方式无极调光:通过调光器0-100%调光;
使用寿命30000小时
尺寸和净重53 *220mm; 净量:1180克不包含配件
可选配件防护眼镜

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500特点
1.1个大功率20W LED,.真正冷光源,亮度达到15万LX;照度相当100瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到90%以上;
产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500应用
LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、 玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查、 液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石

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