新品:半导体瑕疵自动化检测设备

新品:半导体瑕疵自动化检测设备

时间:2021-3-22 编辑:SunLonge

深圳荧鸿利用行业自身的优势—超过10年的产品外观测试经验,进行上下游资源的整合,研发推出半导体外观自动化测试系统,检查半导体表面划痕、微尘、凹凸……瑕疵,更多详情咨询0755-89233889

半导体瑕疵自动化检测设备 

1)基于芯片的人工智能机器视觉技术实现了低功耗检测;

2)可以对视频流图像数据进行视觉分析120帧/秒;

3)可针对半导体零件的曲面进行视觉伤痕检测;

4)通过定制摄像机+异形的结构件+视觉芯片主板,可实现半导体材料的内孔与外圆表面的视觉测试。

5)采用特殊光源检测,利用光学透镜的核心技术,有效的模拟理想的测试环境。

6)成熟的算法, 己经申请了发明专利,目前已经获得了多个国家发明专利

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