半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900简介:
半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯SL8900是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），人眼敏感的黄绿光照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼很容易识别出半导体（晶圆/晶片）表面的缺陷，提高工作效率。SL8900可精确检查到1um以下的瑕疵缺陷，拥有有绿光和黄光2种颜色的复合光，光源强度可达40万LX，比传统的检查灯，效用增强10倍！SL8900除了可以应用在半导体晶圆晶片表面瑕疵检查，还可以检查例如：液晶玻璃、液晶屏幕、汽车玻璃、基材……表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900参数:

型号：SL8900-GY 光源：30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离40cm → 28万lx；距离30cm → 40万 lx（我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求）
照射面积： 9-20cm直径的光圈在40cm的距离（通过调焦距调光）
调光方式：无极调光：从0% ~ 100%；
消耗功率：30 W
电源：调光器（输入110-240V,输出12-24V,2A），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％
产品尺寸：86 * 200mm; 净重： 1.18KG(不含配件）

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900

产品型号	SL8900-W白光晶圆检查灯	SL8900-GY黄绿光晶圆检查灯	备注
LED的数量和规格	1个进口30W 6000K LED 加定制的光学透镜和定制滤光片		可以按照客户的要求定制
	通常6000K白光，510-590NM黄绿光；有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波长产品型号分别是：SL8900-365紫外灯；SL8900-455蓝色灯；SL8900-G绿光检查灯；SL8900-Y黄光的检查灯
检查灯的波长	6000K 白光	510-600NM黄绿光
检查灯的亮度	28万LX→距离40cm； 40万LX→距离30cm；	29万LX→距离40cm； 40万LX→距离30cm；
	我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求
照射面积（单位MM）	Ø 9- 20cm 在40cm的距离
调光方式	无极调光：调光器（输入110-240V,输出12-24V,2A）
使用寿命	30000小时
尺寸和净重	尺寸：86 *200毫米; 净量：1180克不包含配件
可选配件	防护眼镜

半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯SL8900特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源，亮度达到40万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片，检查灯的均匀性能达到80%以上；产品的光均匀性及光斑大小，经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光，人眼易感知且又不伤眼，可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外观设计，无风扇式散热设计—机械散热，能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源；
6：可选择不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波；
白光：刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光：微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光：微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900简介及代号
SL-8900XX UV
代表高强度365NM紫外灯；
B代表455NM蓝光；G代表525NM绿光；
A代表595NM黄光；R代表625NM红光；
GY代表510-595NM黄绿光；
W代表4000-600K的白光
SL8900BL:也可以定制使用锂电池组的（如有特殊要求请跟我们沟通）

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900