wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600简介
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600系列是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），检测灯的原理利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点，取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。 SL8600检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光，来做最简单与明确的判别，可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯，效用增强10倍.SL8600可根据使用场景，使用便携手持式或桌面式（上在底座上即可）。（注意：SL8900和SL8600主要的区别是，SL8600的体积小，SL8600亮度最高只有30万LX,SL8900的最高亮度是40万LX）

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600参数规格
型号：SL8600-GY高照度晶圆LED检查灯；晶圆颗粒缺陷检查灯；Wafer表面检查灯光源：30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离40cm → 20万lx；距离30cm → 30万 lx（我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求）
照射面积： 8-16cm直径的光圈在40cm的距离（通过调焦距调光）
调光方式：无极调光：从0% ~ 100%；消耗功率：30 W
电源：采用110-220V电源供电（交流供电），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％
产品尺寸：73 * 180mm; 净重： 0.68KG(不含配件）

产品型号	SL8600-W白光晶圆检查灯	SL8600-GY黄绿光晶圆检查灯	备注
LED的数量和规格	1个进口30W 6000K LED 加定制的光学透镜和定制滤光片		可以按照客户的要求定制
	通常6000K白光，510-590NM黄绿光；有特殊要求的可以定制 365NM;455NM;595NM;625NM的波长 wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600产品型号 SL8600-365紫外灯；SL8600-455蓝色灯；SL8600-G绿光检查灯；SL8600-Y黄光的检查灯
检查灯的波长	6000K 白光	510-600NM黄绿光
检查灯的亮度	21万LX→距离40cm； 30万LX→距离30cm；	20万LX→距离40cm； 30万LX→距离30cm；
	我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的检查灯，它们可满足不同客户的要求
照射面积（单位MM）	Ø 8- 16cm 在40cm的距离
调光方式	无极调光：通过调光器0-100%调光；旋转头部，通过调整焦距，可以扩大和缩小照明面积
使用寿命	30000小时
尺寸和净重	尺寸：73 *180毫米; 净量：0.68KG不包含配件
可选配件	防护眼镜

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源，亮度达到30万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片，检查灯的均匀性能达到80%以上；
产品的光均匀性及光斑大小，经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光，人眼易感知且又不伤眼，可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外观设计，无风扇式散热设计—机械散热，能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源；
6：可选择不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波；
白光：刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光：微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光：微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。