视频为表面瑕疵检测灯SL8600检测半导体材料外延片、掩模板和衬底表面瑕疵演示,SL8600为桌面式,采用一颗进口LED作为光源,在30cm处的光照度可达30w万LX,可满足大部分的缺陷瑕疵检测要求。演示视频中外延片为非透明半导体材料,衬底和掩模板和透明半导体材料,分别采用不同的检测方法。另外随着技术的更新,国内检测技术越来越成熟,相比于卤素灯,LED检测灯应用更广泛,寿命更长,性价比更高。更多关于半导体材料表面瑕疵检测可咨询深圳荧鸿(sunlonge):0755-89233889。
视频为表面瑕疵检测灯SL8600检测半导体材料外延片、掩模板和衬底表面瑕疵演示,SL8600为桌面式,采用一颗进口LED作为光源,在30cm处的光照度可达30w万LX,可满足大部分的缺陷瑕疵检测要求。演示视频中外延片为非透明半导体材料,衬底和掩模板和透明半导体材料,分别采用不同的检测方法。另外随着技术的更新,国内检测技术越来越成熟,相比于卤素灯,LED检测灯应用更广泛,寿命更长,性价比更高。更多关于半导体材料表面瑕疵检测可咨询深圳荧鸿(sunlonge):0755-89233889。