半导体晶园Wafer表面瑕疵检查灯都有哪些？

深圳荧鸿根据不同用户要求开发多款用于半导体晶园Wafer表面瑕疵检测灯，光源主要为白光，黄光、绿光和黄绿光，样式有手持式、桌面式和手持桌面可选式，以下为部分样式，更多样式可见“半导体瑕疵检测灯”页面。更多问题请咨询：0755-89233889或18923477268（同微信）。

产品型号	SLF6300-W	SL8904-W/或 SL8804	SL9300-W/GW	SL8500-W/GY	SL8600-W/ GY	更多产品请见表面检查灯产品页可根据用户要求定制
产品图片
LED 数量	1*10W -10W	4*5W -20W	1*20W -20W	1*20W -20W	1*20W -20W
波长	通常有6000K白光，加滤光片：510-590NM 黄绿光等
照度距离 30cm	13万LX	4.8万LX	16.9万LX	15万LX	30万LX
照射面积	Ø 5-15cm	Ø 18cm	Ø10-16cm	Ø8-18cm	Ø8- 16cm
光的均匀性	60%	60%	70%	80%	85%
调光方式	无极调光：从 0% ~ 100%
产品尺寸 /净重	45*80MM /0.28KG	116*108mm /2.3KG	116*63mm /2.3KG	53*220mm /0.43KG	73*180MM /0.68
应用	60%以上表面不良可以被检测出	70%以上表面不良可以被检出		80%以上表面不良可以被检测出	90%以上表面不良可以被检测出
测试要求	普通要求：能解决 60%的问题	能解决 70%的问题		较高要求：能解决 80%的问题	高要求：能解决 90%的问题