半导体衬底,掩模板,外延片瑕疵测试那个难度小?

半导体衬底,掩模板,外延片瑕疵测试那个难度小?

时间:2024-7-15 编辑:SunLonge

半导体衬底,掩模板,外延片瑕疵测试种外延片的瑕疵检测难度最小,因为半导体外延片表面为黑色,而衬底和掩模板一般为半透明,透明材质的检测难度大于有色材质的难度。深圳荧鸿表面瑕疵检测灯SL8500可检测衬底,掩模板,外延片瑕疵,不过检测的方法略有不同。

瑕疵检测灯SL8500采用一颗20W进口LED并配上深圳荧鸿研发的光学镜片,使其照度可达15万LX,可检测大多数的微小瑕疵(1um)。SL8500有白光和黄绿光两种光源,样式为桌面式。关于瑕疵检测灯SL8500检测衬底瑕疵和瑕疵检测灯SL8500掩模板瑕疵可点击相应图片进入,更多关于半导体瑕疵检测可咨询0755-89233889。

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