半导体外延片表面瑕疵检测步骤

对半导体外延片进行表面瑕疵检测，我们可采用深圳荧鸿SL8500表面瑕疵检测灯。SL8500是一款桌面式瑕疵检测灯，采用一颗20W进口LED，通过在LED前增加深圳荧鸿研发的光学透镜，是其照度可达9w-15wLX，照射面积为直径8-16光圈。表面瑕疵检测灯SL8500检测半导体外延片步骤如下，更多关于半导体瑕疵检测可咨询0755-89233889.

外延片表面瑕疵检测步骤：
1-在检测台放置黑色背景板
2-将SL8500检测灯灯头调整距离检测台40cm，灯头与检测台角度为垂直90度（不同的灯不一样）
3-接通电源，打开SL8500检测灯并将亮度调到最大
4-将外延片置于检测台上并与水平角度保持一定角度（角度可见使用说明）
5-检测员不断调整外延片与水平的角度直到找到最佳的检测视角

更详细关于SL8500表面瑕疵检测灯操作说明请在购买后与销售联系！