半导体晶圆片缺陷检查灯SL8900检查晶圆片表面飞尘

一片晶圆片表面分布数十万单独的晶片，在做成芯片之前，需要对晶圆片进行相应的缺陷检查。深圳荧鸿检查灯SL8900系列专用于晶圆片表面瑕疵缺陷检查，可精确检查1um瑕疵，以检查晶圆片表面飞尘为例演示。更多详情请咨询：0755-89233889.

一、测量需求

晶圆片表面飞尘

二、测量步骤

1）准备好晶圆片表面缺陷检测灯SL8900，SL8804调整至合适的位置

2）戴好相应的测试装备（手套、眼镜）

3）手拿晶圆片开始检测，查看表面飞尘情况，并调试灯光直到观察效果最明显

4）做相应的分类及记录