半导体晶圆缺陷人工检测用什么缺陷检测灯？

深圳荧鸿专注于表面缺陷瑕疵检测并研发出多款缺陷检测灯以满足各种检测需求，特别是应用于半导体晶圆缺陷检测。半导体晶圆表面缺陷检测不同要求，我们有不同的缺陷检测灯可匹配。以下大概先分3种检测需求，更多关于半导体缺陷检测灯可咨询189 2347 7269（同微信）。

1>缺陷检测灯SL8900和SL8600可解决90%及以上缺陷检测问题
SL8900和SL8600的外形差不多，即可用作手持式也可用作桌面式，均采用1颗进口LED冷光源，寿命可达2000小时，光照度高达40万LX和30万LX，照射面积为9-20和8-16cm直径光圈，光均匀性达到85%以上。

2>缺陷检测灯SL8500可解决80%缺陷检测问题

SL8500为桌面式检测灯，采用1颗进口LED光源，寿命可达2000小时，在30cm处的光照度为15万LX，照射面积为8-18cm直径光圈，光均匀性为80%。

3>缺陷检测灯SL9300和SL8904（SL8804）可解决70%缺陷检测问题

SL9300采用1颗进口LED，SL8904或SL8804则采用4颗进口LED，寿命均可达2000小时，SL9300照度可达16.9万LX，SL8804照度可达6.8万L X，照射面积为10和18cm直径光圈，光均匀性为70%和60%。

4>缺陷检测灯SLF6300-W可解决60%缺陷检测问题

SLF6300-W采用1颗进口LED，，寿命可达2000小时，照度可达2-5万LX，照射面积大概为8cm直径光圈，光均匀性为60%。