半导体晶片表面缺陷瑕疵检测

半导体晶片表面缺陷瑕疵检测

时间:2020-8-31 编辑:荧鸿科技

科技发展日新月异,虽然有一些企业研发出半导体晶片表面缺陷瑕疵检测自动化测试,但目前效果还不显著,目前半导体晶片表面缺陷瑕疵检测主要还是依赖于人工检测。深圳荧鸿用于半导体晶片表面缺陷瑕疵检测的检查灯即可用于人工检测,也可用于自动化检测。

半导体晶片不管是自主加工生产还是外购,都要对其外表进行缺陷瑕疵检查,避免瑕疵品在投入使用,从而导致成品成为不合格产品。深圳荧鸿用于半导体晶片表面缺陷瑕疵检查灯以及测试系统主要技术指标如下:

1、测试精度:可检测出1um以下的缺陷瑕疵

2、光源:人眼易于察觉的绿光和黄光2种颜色的复合光

3、检查系统带工业相机,可拍摄瑕疵点

4、样式灵活,可手持式和桌面放置解放双手

5、可调节灯光照射范围

深圳荧鸿从2006年开始专注于检查灯,并根据市场不同的需求,研发不同的新品。更多关于半导体晶片表面缺陷瑕疵检测灯,请咨询深圳荧鸿热线0755-89233889。

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