sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
无尘实验室紫外线检查灯SL8300
晶片晶圆表面缺陷检测灯SL8804-GY
手持式紫外刑警法医检查灯SL8104
污水排查荧光示踪剂SL3300
表面检查灯SLA310用于汽车表面瑕疵检查
紫外线灯用于电镀、涂装、喷漆表面检查油污
AT069-UV紫外线灯在制药行业—清洁验证中的应用
表面瑕疵表面检查灯用于晶圆表面检查