sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
手持式蓝光荧光检漏灯SL8104-450
紫外线+蓝光双波段光源SL8906-UB
多波段刑警法医检查灯SLM6300-4NM
无尘实验室紫外线检查灯SL8104
紫外线灯用于大学实验室研究小白鼠眼睛测试
绿色表面检查灯SL8104检查液晶面板玻璃表面
AT069-UV紫外线灯在制药行业—清洁验证中的应用
半导体晶圆片缺陷检查灯SL8900检查晶圆片表面飞尘