sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
油基系统荧光检漏仪AT069-KC
半导体半自动化瑕疵检测设备SLT600
空调荧光检漏剂SL3600-制冷系统
水溶性荧光示踪剂SL3000-无色荧光蓝
脱脂检查灯应用于特种车辆清洁检查
紫外线灯用于电镀、涂装、喷漆表面检查油污
绿色表面检查灯SL8104检查液晶面板玻璃表面
绿光表面检查灯应用于电路板半导体表面检查