sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
手电筒式紫外线无损探伤灯SL8300
无尘实验室紫外线检查灯SL8104
实验室紫外线激发光源SL8300
蓝光手电筒荧光检漏灯UVL450
紫外线灯用于检查电路板三防漆涂抹情况
AT069-UV紫外线灯在制药行业—清洁验证中的应用
紫外线灯用于大学实验室研究小白鼠眼睛测试
紫外线灯用于尼龙切片氧化损失率测定