sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
经济型水基荧光检漏仪UVA-6KC
实验室紫外线检查灯UAV-26W
空调补漏剂SLS1000
实验室紫外线激发光源SL8300
AT069-UV紫外线灯在制药行业—清洁验证中的应用
掩膜板缺陷检测视频演示
黑光灯+荧光示踪剂,检查润滑油泄露
黄绿光表面检查灯用于测试液晶面板