sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
手电筒式紫外线无损探伤灯SL8300
手电筒黑光灯RAT071
3倍放大镜实验室紫外线灯UVM103
半导体半自动化瑕疵检测设备SLT600
半导体晶圆片缺陷检查灯SL8900检查晶圆片表面飞尘
掩膜板缺陷检测视频演示
表面检查灯应用于陶瓷基板表面瑕疵检查
表面瑕疵表面检查灯用于晶圆表面检查