sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
手持式实验室检查灯SL8204-365
实验室紫外线检查灯UVM201-带放大镜
经济型水基荧光检漏仪UVA-6KC
空调荧光检漏剂SL3600-荧光冷冻油
AT069-UV紫外线灯在制药行业—清洁验证中的应用
黄绿光表面检查灯用于测试液晶面板
紫外线灯用于检查电路板三防漆涂抹情况
表面检查灯应用于陶瓷基板表面瑕疵检查