sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
油基荧光检漏剂SL3200
水处理荧光示踪剂SL2900
紫外线荧光检漏灯AT063
双波长荧光激发光源SLF9300
紫外线灯检查工业电子及生物医药无尘实验室
晶圆表面微刮伤缺陷检测
黑光灯+荧光示踪剂,检查润滑油泄露
蓝光激发光源用于绿色荧光蛋白激发