sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
手持式脱脂检查灯SL8104
紫外线检漏灯SL1000-迷你型
可调光手电筒黑光灯RAT073
油基系统荧光检漏仪AT069-KC
绿光表面检查灯应用于电路板半导体表面检查
晶圆表面微刮伤缺陷检测
紫外线灯SL8104-H在无尘实验室检测飞尘
黄绿光表面检查灯用于测试液晶面板