sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
无尘实验室紫外线检查灯SL8300
手电筒式大面积紫外线探伤灯SL8803
晶圆瑕疵自动检测机
蓝光手电筒荧光检漏灯UVL450
蓝光激发光源用于绿色荧光蛋白激发
AT069-UV紫外线灯在制药行业—清洁验证中的应用
紫外线脱脂检查灯应用于氧气管道检查
表面检查灯应用于陶瓷基板表面瑕疵检查