sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
实验室紫外线检查灯UVM201-带放大镜
手持式黑光灯SL35-AD
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600
半导体材料表面测试系统SL8804GT-BDT016
紫外线无损探伤灯应用于轴承检查
紫外线灯用于尼龙切片氧化损失率测定
手电筒紫外线检查灯用于乳品生产线清洁检查
掩膜板缺陷检测视频演示