sunlonge晶圆瑕疵检测灯主要为黄光、绿光,可检测晶圆表面的冗余物 ,包括表面扶着的灰尘、颗粒、污染物等。这些晶圆瑕疵来自于切割、抛光、清洗、刻蚀等工序中产生的碎屑,或者是空气中的尘埃,或者是化学试剂的残留,还可检测由机械损伤引发的晶圆表面划痕、本变、剥离等现象,另外可检测晶圆本身缺陷,如:空洞、凹坑。
手电筒式紫外线检漏灯SL8803
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900
荧光蛋白观测拍照滤镜SLF500/600
大面积悬挂式表面检查灯SL8108-G
掩膜板缺陷检测视频演示
晶圆表面微刮伤缺陷检测
手电筒紫外线检查灯用于乳品生产线清洁检查
紫外线灯用于检查电路板三防漆涂抹情况