2款wafer晶圆检验强光灯

深圳荧鸿专注于工业瑕疵检测灯，有多种样式可供选择，照度从3万到40万LX可选，可用于半导体晶圆wafer（透明衬底、掩膜板、外延片）、液晶玻璃、汽车玻璃、面板等表面缺陷瑕疵检测。以下为深圳荧鸿为您介绍2款用于wafer晶圆表面缺陷检测的强光灯，更多关于表面缺陷检测可咨询0755-89233889或189 2347 7268。

1）30万LX晶圆wafer检验强光灯SL8600

wafer检验强光灯SL8600采用一颗30W高亮度进口LED，LED前加装自主研发光学透镜；在距离30cm处检测出紫外线照度为30万LX，照射面积为8-16cm光圈；SL8600可通过灯头或控制器调整照度和照射面积，支持无极调光，采用交流供电可24小时无间断工作。wafer检验强光灯SL8600可通过加装滤镜变换不同光源，可根据检测环境使用手提式或桌面式。

2）40万LX晶圆wafer检验强光灯SL8900

wafer检验强光灯SL8600采用一颗30W高亮度进口LED，LED前加装自主研发光学透镜；在距离30cm处检测出紫外线照度为40万LX，照射面积为9-20cm光圈，可解决90%的表面缺陷检测问题；SL8900有手提式和桌面式2🀄️样式，用户可根据应用需求选择；SL8900可通过灯头或控制器调整照度及照射面积，支持无极调光。深圳荧鸿可根据用户要求给SL8900加装滤光片或定制不同波长检测灯。