碳化硅衬底缺陷检测视频

视频中为深圳荧鸿晶圆缺陷检测灯SL8500检测半导体碳化硅衬底表面缺陷操作演示，碳化硅衬底为透明半导体材料，缺陷检测难度稍大于不透明半导体材料。我们深圳荧鸿采用悬空法对其缺陷进行检测。更多关于半导体材料缺陷检测可咨询0755-89233889！