半导体晶圆片缺陷检查灯SL8900检查晶圆片表面飞尘

半导体晶圆片缺陷检查灯SL8900检查晶圆片表面飞尘

时间:2020-9-14 编辑:荧鸿科技

一片晶圆片表面分布数十万单独的晶片,在做成芯片之前,需要对晶圆片进行相应的缺陷检查。深圳荧鸿检查灯SL8900系列专用于晶圆片表面瑕疵缺陷检查,可精确检查1um瑕疵,以检查晶圆片表面飞尘为例演示。更多详情请咨询:0755-89233889.

一、测量需求

晶圆片表面飞尘

二、测量步骤

1)准备好晶圆片表面缺陷检测灯SL8900,SL8804调整至合适的位置

2)戴好相应的测试装备(手套、眼镜)

3)手拿晶圆片开始检测,查看表面飞尘情况,并调试灯光直到观察效果最明显

4)做相应的分类及记录 半导体晶圆片飞尘检查

 

0755-89233889 发送短信