半导体半自动化检测瑕疵设备演示

半导体半自动化检测瑕疵设备演示

时间:2025-4-8 编辑:SunLonge

视频中为深圳荧鸿最新开发的半导体半自动瑕疵检测设备,整套设备由三轴系统、三轴控制器和半导体瑕疵检测灯(视频中为SL8500)三部分组成。更多关于半导体瑕疵检测可咨询深圳荧鸿0755-89233889!
三轴控制器可调节XYZ轴以适应不同尺寸和大小的半导体材料,视频中以透明的掩模板为例进行讲解。首先我们安装好半导体材料,然后调节瑕疵检测灯SL8500的位置,让灯头与半导体材料样板垂直并保持30cm的距离。检测开始,我们先打开三轴控制台以及瑕疵检测灯SL8500,初次检测需要将三轴系统回到初始状态,然后开始检测。检测开始后,三轴系统自动移动位置使得半导体材料每个部位都能够被检测到,遇到比较复杂的瑕疵可暂停进行观察。

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